サポート業務のご案内2

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品質評価・耐環境性評価・寿命試験の他各種試験

各種品質評価試験(各種半導体/電子部品及びモジュール/ECU等に適用)
JEITA規格,JEDEC規格,AEC規格など各種規格評価対応

断面研磨観察 高温放置試験
はんだ付け性試験 低温放置試験
はんだ濡れ性評価 温度サイクル試験
メニスコ試験 高温高湿放置試験
半導体ESD評価試験 HAST/PCT試験
ラッチアップ評価試験 マイグレーション試験
ON-OFF動作寿命試験 ウィスカー試験
低温動作寿命試験 高温高湿動作/バイアス寿命試験
  等々、お客様仕様での対応可   等々、お客様仕様での対応可

(主な評価試験設備)

高温槽

4台

IRリフロー

1台

温度サイクル槽

4台

ESDテスター

1台

高温高湿槽

3台

プロ‐バ(クリ‐ンベンチ付)

1台

環境試験機

3台

マイグレーションテスター

1台

低温槽

1台

メニスコ試験器 

1台

HAST/PCT

1台

 

 

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温度サイクル槽と寿命試験用高温槽

 

ESD耐量評価

HED-S5000
(モード)MM / HBM
(最大印加電圧) 8kV

※CDMモードについては要相談

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ESD耐性実力評価及び Go-NoGo判定まで対応。

ESD印加後はV-I特性にて ダメージ確認(要相談)

ラッチアップ耐性

電流注入法/電源過電圧法
⇒アナログテスター(左写真)にて対応

コンデンサチャージ法
⇒ESDテスタとオシロスコープにて対応 

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CDTDV10302

・電流注入法
・電源過電圧法
・コンデンサチャージ法 

メニスコ試験(半田濡れ性評価)

部品の半田濡れ性を確認することにより実装上の品質評価。

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メニスコグラフ

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メニスコ試験器

リフローストレス

JEDEC/JEITA/AECなどの各種規格に対応。信頼性試験の前処理に使用
お客様指定のプロファイルで評価する事をサポートしています。

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リフロープロファイル

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IR リフロー槽