サポート業務のご案内2

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品質評価・耐環境性評価・寿命試験の他各種試験

各種品質評価試験（各種半導体／電子部品及びモジュール／ＥＣＵ等に適用）
JEITA規格，JEDEC規格，AEC規格など各種規格評価対応

断面研磨観察 高温放置試験
はんだ付け性試験 低温放置試験
はんだ濡れ性評価 温度サイクル試験
メニスコ試験 高温高湿放置試験
半導体ESD評価試験 HAST／PCT試験
ラッチアップ評価試験 マイグレーション試験
ＯＮ－ＯＦＦ動作寿命試験 ウィスカー試験
低温動作寿命試験 高温高湿動作／バイアス寿命試験
　　等々、お客様仕様での対応可 　　等々、お客様仕様での対応可

（主な評価試験設備）

高温槽

4台

ＩＲリフロー

1台

温度サイクル槽

4台

ESDテスター

1台

高温高湿槽

3台

プロ‐バ（クリ‐ンベンチ付）

1台

環境試験機

3台

マイグレーションテスター

1台

低温槽

1台

メニスコ試験器　

1台

HAST/PCT

1台

 

 
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温度サイクル槽と寿命試験用高温槽

 

ESD耐量評価

HED-S5000
（モード）MM / HBM
（最大印加電圧） 8kV

※CDMモードについては要相談

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ESD耐性実力評価及び Go-NoGo判定まで対応。

ESD印加後はV-I特性にて ダメージ確認（要相談）

ラッチアップ耐性

電流注入法/電源過電圧法
⇒アナログテスター(左写真)にて対応

コンデンサチャージ法
⇒ESDテスタとオシロスコープにて対応　

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CDTDV10302

・電流注入法
・電源過電圧法
・コンデンサチャージ法　

メニスコ試験（半田濡れ性評価）

部品の半田濡れ性を確認することにより実装上の品質評価。

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メニスコグラフ

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メニスコ試験器

リフローストレス

JEDEC/JEITA/AECなどの各種規格に対応。信頼性試験の前処理に使用
お客様指定のプロファイルで評価する事をサポートしています。

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リフロープロファイル

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ＩＲ　リフロー槽