T.A.Q.S.の取り組み

ビル

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長年の自動車用電子部品の品質保証に携わってきた、ゼロ・デフェクト・ノウハウをもとに、現場の品質を支える、検査・バーイン・スクリーニングから、初期不具合解析、故障解析/原因解析、品質・信頼性評価等の品質サポートをJEDEC,JEITA、AEC Q100等の公的規格をベースにした、各種サポートを提供しています。

T.A.Q.S タイムライン

  • 2008年03月  オートモーティブ品質ノウハウでサポート業務開始
  • 2009年01月  ISO/JIS Q 14001認証取得
  • 2009年11月  良品構造解析業務開始
  • 2010年09月  バーイン/テストサポート開始
  • 2011年06月  IGBTランク分け、ASO検査開始
  • 2011年08月  エミッション・オバーク解析、FIBサポート開始
  • 2013年01月    ISO/JIS Q 9001認証取得
  • 2017年04月  株式会社ネクスティエレクトロニクス設立に関するお知らせ
  • 2019年02月    ISO/JIS Q 27001認証取得

T.A.Q.Sの各種サポートサービス

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選別・検査/スクリーニング
補完作業・テーピング作業・他

外観選別,X-ray選別,電気特性選別(テスターなど) 検査後のテーピング/梱包まで対応可能

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品質評価・耐環境評価・寿命試験

JEDEC/JEITA/AECなど各種規格の品質・信頼性評価
環境・寿命試験に対応可能。 他、ESD,ラッチアップなどのノイズ耐性評価の対応可能。

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不具合解析・初期不良解析
故障解析・原因解析

半導体の不具合初期解析(非破壊解析)、デキャップ・薄膜除去等の故障解析、プロービング・オバーク等の故障・原因解析

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部品・機器の品質・機能評価、
リバースエンジニアリング

電子部品・電子機器の動作特性・機能特性の測定評価、リバースエンジニアリング等、設計・開発時の配線リペア、試作品のPKG組み立て等、お客様の多様なご依頼に対応したサポート。

詳しくはこちら

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