品質評価・耐環境性評価・寿命試験の他各種試験
各種品質評価試験
（各種半導体／電子部品及びモジュール／ＥＣＵ等に適用）
JEITA規格，JEDEC規格，AEC規格など各種規格評価対応
| 断面研磨観察 | 高温放置試験 |
| はんだ付け性試験 | 低温放置試験 |
| はんだ濡れ性評価 | 温度サイクル試験 |
| メニスコ試験 | 高温高湿放置試験 |
| 半導体ESD評価試験 | HAST／PCT試験 |
| ラッチアップ評価試験 | マイグレーション試験 |
| ＯＮ－ＯＦＦ動作寿命試験 | ウィスカー試験 |
| 低温動作寿命試験 | 高温高湿動作／バイアス寿命試験 |
| 等々、お客様仕様での対応可 | 等々、お客様仕様での対応可 |
（主な評価試験設備）
| 高温槽 | 4台 | ＩＲリフロー | 1台 |
|---|---|---|---|
| 温度サイクル槽 | 4台 | ESDテスター | 1台 |
| 高温高湿槽 | 3台 | プローバ（クリーンベンチ付） | 1台 |
| 環境試験機 | 3台 | マイグレーションテスター | 1台 |
| 低温槽 | 1台 | メニスコ試験器 | 1台 |
| HAST/PCT | 1台 |
温度サイクル槽と寿命試験用高温槽
ESD耐量評価
ESD耐性実力評価及び Go-NoGo判定まで対応。
ESD印加後はV-I特性にて ダメージ確認（要相談））
（モード）MM / HBM
（最大印加電圧） 8kV
※CDMモードについては要相談
ラッチアップ耐性
・電流注入法
・電源過電圧法
・コンデンサチャージ法
メニスコ試験
(半田濡れ性評価)
部品の半田濡れ性を確認することにより実装上の品質評価。
